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薄膜电阻性能失效,哪种无损检测手段可以对其内部进行检测?
分类:公司动态
发布时间:2022-12-06
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薄膜电阻器就是采用类蒸发的方法,将一定电阻率材料蒸镀于绝缘材料表面制成,主要由绝缘相、半导体相和导电相组成,陶瓷基板是薄膜电阻常用的绝缘材料。现阶段,高精密薄膜电阻在航空、国防以及电子计算机、通讯仪器、电子交换机等高新领域都有了广泛的应用,因为高精密薄膜电阻具有高电阻率、低电阻温度系数、高稳定性、无寄生效应和低噪音等优良特性,对ADC和 DAC 的精度和分辨率都带来了很大的提升。


在生产的过程中,导电材料的结构变化、气体吸附与解吸、氧化、有机保护层的影响、机械损伤和银电极硫化腐蚀导致开路等因素都会导致薄膜电阻性能失效,导致出现介质漏电、薄膜电容量变化、介电路失效、低电平开路等危害。薄膜电阻性能失效常用的无损检测手段是x射线无损检测,是工业无损检测的新技术,能够对在薄膜电阻发生故障前,快速、准确地定位缺陷点,并且及时将缺陷排查出来,是车间生产的正常运作的稳定剂。接下来我们看看X射线无损检测仪有哪些作用。


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正业科技x射线无损检测仪是根据x射线透过被检测物体后的射线强度差异,判断被检测物体内部是否存在缺陷和异物,检测过程中应用CCD成像系统会自动关联x射线成像结果,采用矩阵运行方式x射线成像系统,可以获得高清晰度的成像,呈现出完整的被测物体图像,自主研发的算法软件具备功能强大,可实现实时复盘,边采图边复盘,自动准确地检测被检测物内部的不良项,是无损排查薄膜电阻故障的最佳之选。


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