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绝缘栅双极型晶体管是如何检测IGBT缺陷的?
分类:公司动态
发布时间:2023-02-09
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绝缘栅双极晶体管IGBT是强电流、高压应用和快速终端设备用垂直功率MOSFET的自然进化,因综合了电力晶体管GTR和电力场效应晶体管MOSFET的优点,具有良好的特性,广泛应用于电子制造行业。IGBT的应用范围一般都在耐压600V以上、电流10A以上、频率为1kHz以上的区,主要在工业用电机、民用小容量电机、变换器(逆变器)、照相机的频闪观测器、感应加热、电饭锅等领域使用。


IGBT在生产制造过程中不可避免会出现各种类型故障,如元器件内部的裂纹、空洞、夹渣、封装贴片产生分层、虚焊、空洞、气泡等,这些缺陷光凭人工目检是很难检测出来的,必须需要用到专业的检测设备。为了保证生产线的正常运作,产成品的高效稳定输出,那些有用到IGBT元器件进行生产的企业用到的是一种精准快速,且不会对IGBT元器件进行破坏的检测方法——x射线无损检测技术。


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在半导体封装检测领域,会用到x射线无损检测仪进行检测,利用的是X射线成像原理。X射线在穿透物体的过程中会与物质发生相互作用,因吸收和散射而使其强度减弱,强度衰减程度于物质的厚度相关,如果被透照物体的局部存在缺陷,透过该局部区域的x射线强度与周围不同。正业科技全自动X射线无损检测仪XG5500就是用来检测IGBT缺陷的,X-RAY发生器发出X射线,射线会穿透IGBT内部,成像系统接收X射线成像和拍照,紧接着软件处理图像、自动测量和判断缺陷,确定良品和不良品,并将不良品挑选出来,产品优率达99.5%以上,是检测IGBT缺陷的不二之选。




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